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            nanosensors原子力探針及標準樣品

            NanoSensors原子力探針/標樣

            NanoSensors由原IBM公司的納米技術專家Oladf Wolter博士于1991年創建。NanoSensors公司是世界上重要的面對全球提供高品質原子力AFM探針的廠家。

            NanoSensors出產的針尖曲率半徑小于10nm的原子力AFM硅探針,對世界上許多重大的科學成果貢獻良多。在多年間,NanoSensors不斷創新技術,擴展了AFM探針的種類,并獲得多個國際獎項。

            2002年,NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團,繼續堅持為全球研究者提供最高品質的原子力探針。

            跳轉網站?進入NanoSensors官方網站

            NanoSensors常用的產品

            PPP-NCHR

            PPP-NCHR原子力探針

            輕敲模式/非接觸模式探針,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率330kHz,彈性系數42N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。

            PPP-CONTR

            PPP-CONTR原子力探針

            接觸模式探針,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率13kHz,彈性系數0.2N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。

            PPP-MFMR

            PPP-MFMR原子力磁性探針

            用于磁力顯微鏡測量,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率75kHz,彈性系數2.8N/m,針尖曲率半徑<50nm,針尖鍍硬磁性材料鍍層。

            NanoSensors產品概覽

            PointProbe Plus (PPP)系列——常用探針

            PPP系列原子力探針

            PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針,適用于大部分的應用及商品化的AFM。
            PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm,可實現高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性。

            SuperSharp Silicon (SSS)系列——超尖探針

            SSS超尖原子力探針

            SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術生產,專門為超高分辨的成像所設計。
            SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm,實現超高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性。

            High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列——高長徑比探針

            AR高長徑比原子力探針

            AR系列探針專門為測量具有大長徑比或垂直臺階結構的樣品而設計。
            AR系列探針具有接近垂直的針尖,總體針尖長度達到10-15um,針尖的曲率半徑小于5度(AR10小于2.8度)。

            Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列——金剛石鍍層探針

            金剛石鍍層原子力探針

            DT(金剛石)和CDT(導電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況,同樣也應用于摩擦力測量、樣品彈性測量等。

            MFM——磁力顯微鏡探針

            磁力顯微鏡探針

            多種規格(硬磁或軟磁)的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應用而設計。所有探針的磁性鍍層,均具有優越的穩定性。

            Carbon Nanotube (CNT)系列——碳納米管探針

            碳納米管原子力探針

            Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應用而設計的。
            碳納米管探針使用化學沉積的方法,在PPP系列針尖的最尖端處,生長出碳納米管,從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長徑比及極佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中,能獲得最高的分辨率。

            AdvancedTEC (ATEC)系列——可視化探針

            ATEC'可視化原子力探針

            AdvancedTEC系列探針,在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種獨有的技術使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針,從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。

            Plateau (PL)系列

            Plateau系列原子力探針

            Plateau系列探針,使用離子束切割技術,將傳統錐形的針尖弄鈍,在針尖處形成一個直徑為1.8μm的圓形平臺,為用戶的特殊應用提供了個性化的探針。

            Transfer Standards /Calibration Standards 標準樣品

            原子力標準樣品

            NanoSensors提供的高精度標準樣品包括:

            1. 二維正交標準樣品:周期分別為100nm、200nm和300nm。
            2. 高度標準樣品:臺階高度為8nm。
            3. 粗糙度標準樣品:100um以內的峰峰值小于10nm。  

            NanoSensors探針種類繁多,更多型號請登錄廠家官方網站查詢??跳轉網站

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